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電子元器件為什么要做高溫老化測(cè)試?
更新時(shí)間:2021-10-19   點(diǎn)擊次數(shù):2485次

當(dāng)今,隨著科技的進(jìn)步,電子制造技術(shù)也日益發(fā)達(dá),集成化程度越來越高,工序越來越多,結(jié)構(gòu)也越來越精細(xì),制造工藝越來越復(fù)雜,錯(cuò)綜復(fù)雜的因素必然會(huì)導(dǎo)致在制造過程中隱藏著缺陷,作為電子產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)廠家,不斷地保證其性能的高精準(zhǔn)性,也要保證其質(zhì)量的穩(wěn)定性。因此對(duì)它進(jìn)行相關(guān)的檢驗(yàn)也是必要的,那么為什么要做老化試驗(yàn)?zāi)兀?/span>


通常這類缺陷需要在元件工作的額定功率和正常工作溫度下工作1000小時(shí)左右,才能*激活(暴露)。很明顯,對(duì)每個(gè)部件都要測(cè)試一千個(gè)小時(shí)是不現(xiàn)實(shí)的,因此需要對(duì)它施加熱應(yīng)力和偏壓,比如進(jìn)行高溫動(dòng)力應(yīng)力試驗(yàn),以加速這種缺陷的早期暴露。即對(duì)電子產(chǎn)品施以熱、電、機(jī)等綜合外力,模擬嚴(yán)酷的工作環(huán)境,消除加工應(yīng)力及殘留溶劑等物質(zhì),使?jié)摲怨收咸崆鞍l(fā)生,盡快使產(chǎn)品通過失效浴盆特性初期階段,盡快使產(chǎn)品通過浴盆特性初期階段高可靠。

經(jīng)過高溫老化可使產(chǎn)品在生產(chǎn)過程中出現(xiàn)缺陷、焊接、裝配等安全隱患提前暴露,老化后再進(jìn)行電氣參數(shù)測(cè)量,篩選出失效或變值元件,盡可能將產(chǎn)品的早期失效消滅在正常使用中,從面保證產(chǎn)品出廠的產(chǎn)品能經(jīng)得起時(shí)間考驗(yàn)。

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一般而言,電子產(chǎn)品經(jīng)過生產(chǎn)制造后,已形成完整的產(chǎn)品,已能發(fā)揮使用價(jià)值,但使用后卻發(fā)現(xiàn)在使用中會(huì)有這樣的毛病,再發(fā)現(xiàn)在大多數(shù)情況下,大多數(shù)情況下都是在數(shù)小時(shí)到幾十小時(shí)內(nèi)發(fā)生,然后才規(guī)定電子產(chǎn)品的老化和測(cè)試,仿照或者等效產(chǎn)品的使用狀態(tài),這是由產(chǎn)品制造者來完成的。經(jīng)過重新測(cè)試,將不合格的產(chǎn)品留在工廠里,沒有問題的產(chǎn)品給用戶,以確保用戶購買的產(chǎn)品是可靠的或幾乎很少問題的。


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